A.试验高压电源对桥体杂散电容的影响。
B.外界电场的干扰。
C.外界磁场干扰。

A.外壳
B.高压绕组
C.低压绕组
D.中压绕组

A.开裂
B.受潮
C.老化
D.变质

A.集中性缺陷
B.特殊性缺陷
C.分布性缺陷
D.贯穿性缺陷

A.非破坏性实验
B.破坏性试验
C.在线试验
D.离线试验

A.测量局部放电规律可以预示主绝缘的情况，估计绝缘老化速度与绝缘寿命的重要依据
B.检测方法有电气检测法和非电气检测法
C.局部放电是由于在局部区域中电场强度达到击穿强度所引起
D.局部放电不影响设备绝缘

A.正，高
B.正，低
C.反，高
D.反，低

A.整体
B.局部
C.集中

A.兆欧表
B.西林电桥
C.万用表
D.试验变压器

A.测量绝缘电阻
B.测量tan δ
C.测量泄漏电流
D.测量吸收比

A.高压侧
B.低压侧
C.任意一侧都可以