A.聚焦探头
B.双晶探头
C.直探头
D.斜探头

A.球孔
B.平底孔
C.横孔
D.V 形槽试块

A.缺陷波形缓降，底波明显上升
B.缺陷波形陡直，底波明显上升
C.缺陷波形缓降，底波明显下降
D.缺陷波形陡直，底波明显下降

A.0~3min
B.3~5min
C.5~10min
D.10~15min

A.医疗照射
B.实践引起的照射
C.天然源照射
D.人工辐射

A.覆盖范围大，该方向上的空间分辨率好
B.覆盖范围大，该方向上的空间分辨率差
C.选择多组测量单元，测量较大的区域
D.选择多组测量单元，防止检测时漏检

A.平底孔试块
B.ⅡW 试块
C.CSK-ⅢA 试块
D.CSK-I A 试块

A.覆盖性
B.通用性
C.可选性
D.针对性

A.最大磁导率的左侧
B.最大磁导率处
C.最大磁导率的右侧
D.磁导率平均中心位置

A.半波整流
B.全波倍压恒直流
C.全波整流
D.倍压整流

A.检验速度快，成本低
B.缺陷磁痕可永久保留
C.与连续法配用，灵敏度高
D.能跟踪疲劳裂纹的产生和发展