A.故障检测率低
B.故障隔离率低
C.Ⅰ类虚警率高
D.故障虚警率高

A.可更换单元
B.组合
C.电路板
D.分系统

A.诊断策略优化
B.测试选择
C.故障检测
D.测试性描述

A.异常处理和结构优化
B.结构优化
C.语句分析和结构优化
D.程序调试和结构优化

A.测试程序层
B.管理层
C.主程序层
D.驱动层

A.测试层
B.主程序层
C.驱动层
D.总线层

A.单通道输入结构
B.多路分时采集输入结构
C.多路同步采集分时输入结构
D.多路同步采集多通道输入结构

A.传感器
B.数据缓冲寄存器
C.D/A转换器
D.信号变换（放大）器

A.传感器
B.信号变换电路
C.采样/保持（S/H）电路
D.A/D转换电路

A.直流
B.交流
C.数字
D.频率

A.为缩短测试时间，需要具有快速自检功能
B.要有较高的可靠性，在软件和硬件上应采用适当的容错和冗余设计
C.测试系统有较高的抗干扰能力，抗干扰设计应贯穿于系统设计的全过程
D.重量轻，在硬件设计时，要充分考虑各个部件的重量