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问答题

本征层厚度为3mm的一个380mm2的平面Ge(Li)探测器对距它表面100㎜处0.25MBq的137Csγ射线源测量5min所得的全能峰、单逃逸峰、双逃逸峰下面的计数(R=20/1)。

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问答题

一个Ge(Li)探头相对于标准Φ7.62cm×6.62cm的NaI(T1)闪烁体有8%的光电峰效率。求对于距探测器40㎝处一个3.7×107Bq的60Co点源的1.33MeV全能峰计数率。

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问答题

试就以下条件画出硅面垒探测器的期望微分脉冲幅度谱:
(a)5MeV入射α粒子,探测器的耗尽深度大于α粒子的射程。 
(b)5MeVα粒子,探测器的耗尽深度为α粒子射程之半。 
(c)情况同(a),但5MeVα粒子已经经过一块吸收体,其厚度等于该物质中α射程的一半。

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问答题

当α粒子被准直得垂直于金硅面垒探测器的表面时,241Am刻度源的主要α射线峰中心位于多道分析器的461道。然后改变几何条件,使α粒子偏离法线35°角入射,此时,峰位移到449道,试求死层厚度(以α粒子粒子能量损失表示)。

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问答题

使用一个完全耗尽了的0.1mm厚的硅探测器,若偏压大到足够使载流子速度处出饱和,估算电子和空穴的最大收集时间。

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问答题

死时间分别为30μs和100μs的探测器A和B,若B探测器的死时间漏计数率是A探测器死时间漏计数率的两倍,求应测的计数率是多少?

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问答题

电容为10PF的冲氩气的脉冲电离室,前置放大器的噪声约20MV,输入电容20PF(忽略分布电容)。若认为信噪比小于5就无法测量了,求该电离室能够测量的粒子最低能量。

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问答题

用锢(In)片活化法测量热中子通量密度,已知铟片s=4㎝2,xm=100mg/cm2, 锢中115In的丰度为95.7%,热中子活化截面145b。将铟片放在中子场中照射6小时后取出,等待20分钟开始测量116In的放射性,测量10分钟测得计数率为164000cps,求照射的热中子通量密度。(116mIn的半衰期为54.1分,116In半衰期为14.1秒)

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问答题

当G-M计数管的窗厚加60mg/cm2时,β的计数率减少一半。试求这种放射源发射的β射线的最大能量是多少?

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问答题

一个具有比较好的信噪比特性的放大器给定10mV的最小输入脉冲。如果测量500keV的X射线,在一个具有200pF的充Ar正比计数管中需要多大的气体放大因子?

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