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判断题

ICP-MS中采样锥和截取锥之间的距离是非常重要的参数。

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判断题

ICP-MS中截取锥的作用是选择来自采样锥孔的膨胀射流的中心部分,并让其通过截取锥进入下一级真空。

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ICP-MS中截取锥应经常清洗,否则重金属基体沉积在其表面会再蒸发电离形成记忆效应。

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经常清洗ICP-MS中截取锥可使记忆效应和多原子离子干扰降低。

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ICP-MS中的离子聚焦系统(离子光学透镜/离子光学系统)位于截取锥和质谱分离装置之间,它决定了离子进入质量分析器的数量和仪器的背景噪声的水平。

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ICP-MS中的离子聚焦系统(光学透镜/离子光学系统)由一组静电控制的离子透镜(离子光学透镜)组成,其原理是利用离子的带电性质,用电场聚集或偏转牵引离子。

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ICP-MS中离子透镜(离子光学透镜)的作用是将一个定向速度传输给离子,使离子被吸向质量分析器,并将离子保留在真空系统中,而不需要的中性离子则被泵抽掉。

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空间电荷效应是ICP-MS基体效应的主要根源,如果不采取任何方式补偿的话,较高质荷比的离子将会在离子束中占优势,而较轻质荷比的离子则遭排斥。

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丰度灵敏度是四极杆质谱仪的重要特性,它代表一个分析物谱峰的拖尾对相邻质量处的重叠程度。

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四极杆质量分析器将离子按质荷比分离后最终引入检测器,检测器将离子转换成电子脉冲后由积分线路计数,电子脉冲的大小与样品中分析离子的浓度有关。

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