A. GS-1
B. GS-2
C. GS-3
D. GS-4

A.探头前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面积小、
D. 以上同时考虑

A. CSK－ⅠA
B. T3型
C. CSK－ⅡA
D. T1型

A. CS1 型
B. CS2型
C. T2型
D. T1型

A. 直探头、纵波斜探头、横波斜探头
B. 双晶探头、纵波斜探头、横波斜探头
C. 双晶探头、直探头、纵波斜探头、纵波双晶斜探头
D. 双晶探头、直探头、横波斜探头

A. 直探头在翼板外侧上扫查检测
B. 斜探头在翼板外侧扫查检测
C. 直探头在腹板上扫查检测
D. 斜探头在腹板上扫查检测

A. 试块法
B. 通用 AVG 曲线法
C. 底波计算法
D. 以上都可以

A. ф2平底孔
B. ф6平底孔
C. ф3平底孔
D. ф4平底孔

A. 在接管内表面用直探头检测
B. 在接管内表面用斜探头检测
C. 在容器外表面用斜探头检测
D. 以上一种或几种方式组合应用

A. 纵波斜探头
B. 纵波直探头
C. 表面波探头
D. 横波斜探头

A. 不合格的缺陷应予返修，返修部位及热影响区仍按本标准进行检测及质量等级评定
B. 最大反射波幅位于Ⅱ区的缺陷，根据其指示长度进行评定
C. 板厚不等的对接焊接接头，缺陷等级评定时取薄板侧厚度值
D. 最大反射波幅低于定量线的缺陷，均评为Ⅰ级