A.50%
B.60%
C.78%

A.半导体器件参数的变化
B.电源电压的变化
C.电路中电容和电阻数值的变化

A.AVD等于AVC
B.AVD大而AVC要小
C.AVD小而AVC要大

A.3Au
B.A³u
C.A³u/3

A.同相位
B.相位差90°
C.相位差180°

A.测试设备引起
B.产生原因复杂，很难分析
C.仪表元件老化

A.粉红色
B.淡绿色
C.天蓝色

A.上部
B.中部
C.下部

A.0.2—0.5m/s
B.0.5—10m/s
C.>10m/s

A.7天
B.10天
C.15天

A、卡他温度计
B、空盒气压计
C、液柱式压力计