A.这两个或多个事件的发生是完全相关的
B.符合分辨时间是为方便电子学实现而引入的，真符合的事件必定发生在同一时刻
C.真符合中的两个事件发生的时刻可以是近似同时
D.符合电路利用“与”门来实现

A.符合事件指的是同时发生的两个或多个事件
B.同时发生的两个事件若没有因果关系，不能算符合
C.同时指的是同一时刻，而不是一个时间段内，所以实际中的符合非常少见
D.符合可以用在粒子甄别上，但是反符合不行

A.坪斜修正可以降低工作电压偏高对结果的影响
B.高Z材料会加强反散射效果，所以要用低Z材料做源托
C.β射线在介质中的被吸收规律近似服从指数规律
D.β射线穿透力强于α粒子，故而不需要考虑源的自吸收问题

A.不能用小立体角法测量
B.需要考虑轫致辐射效应
C.需要考虑电子散射问题
D.不需要真空的测量环境

A.不需要考虑源的自吸收
B.厚样品在实际中很少见
C.样品厚度达到一定值后，再增大其厚度，测量的活度基本不变
D.样品不同位置薄层中的α粒子出射的概率是一样的

A.探测腔室一般要抽真空
B.为提高探测效率，α源要尽可能贴近探测器
C.源发射α粒子是各向同性的
D.一般可以作为点源处理

A.由于吸收作用，探测器的窗对活度测量会有影响
B.α源与探测器间的空气也会影响测量的活度结果
C.对于β射线的测量，散射情况一般需要考虑
D.由于反散射的影响，需要用高Z材料做β源托，降低反散射

A.点源情况下的源的形状
B.探测器的种类
C.探测器的大小尺寸
D.入射粒子的种类

A.放射源一般都比较小，所以都可以看做点源
B.只有源的直径远小于探测器距源的距离时才可以将其看做点源
C.只有源的直径远小于探测器敏感体积的尺寸时才可以将其看做点源
D.非点源情况下，无法用解析的方法计算探测效率

A.测量开始的时间
B.探测器本征探测效率
C.环境本底的计数率
D.源与探测器几何位置关系

A.相对法需要一个已知活度的源作参照
B.使用相对法测量更加简便，所以是活度测量的基本方法
C.绝对法复杂一些，要结合各种实际的情况因素进行考虑
D.为保证结果的精确性，使用绝对法测量时可以多次测量进行分析