问答题
X 纠错
简述质谱仪的组成和组成部分的作用。
参考答案:
离子源(将被分析的气体或者蒸汽转化为离子)、质量分析器(将离子按质荷比顺序分开并排列成谱)、检测器(检测不同质荷比离子的强度)和真空系统(保证质谱仪的离子源和分析器达到真空条件)。
进入题库练习
查答案就用赞题库小程序
还有拍照搜题 语音搜题 快来试试吧
无需下载 立即使用
你可能喜欢
问答题
电子探针对材料的成分分析与EDXRF成分分析有何异同?
参考答案:
(1)异:EDXRF检测的是由X射线激发产生的荧光X射线,EPMA检测的是由电子束激发产生的特征X射线。(2)同:检测激...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述能谱分析和波谱分析的异同。
参考答案:
(1)同:检测特征X射线的波长和强度是由X射线谱仪(波谱仪或能谱仪)来完成的。(2)异:1.波长分散谱仪入射电子束激发样...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述SEM在材料研究的主要用途。
参考答案:
(1)形貌相研究:适用于微细矿物材料的形态、解理、晶面花纹、生长纹、断口及裂理纹等表面特征和矿物颗粒的空间关系等。(2)...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述SEM图像衬度的产生原因、类型及主要特点。
参考答案:
(1)SEM像衬度的形成主要基于样品微区如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。入射电子与之相互...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述SEM的结构和特点(与TEM对比)。
参考答案:
(1)由电子光学系统(镜筒)、偏转系统(扫描系统)、信号探测放大系统、图像显示记录系统、真空系统和电源系统等。作用:使电...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述SEM的基本原理。
参考答案:
SEM是利用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,试样为块状或粉末颗粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子等,其中...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述TEM的特点及主要用途。
参考答案:
(1)TEM是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜,是观察和分析形貌组织结构的有效工具,利用附件也可以进行微区成分分析。(2...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述图像衬度的概念。
参考答案:
图像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。由于图像上不同区域间存在明暗程度的差别即衬度的存在,才使得我们能观察到各种具体...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述TEM的样品制备及主要类型。
参考答案:
经悬浮分散的超细粉末颗粒(支持膜法)——直接样品;材料薄膜(晶体薄膜法和超薄切片法)&mdash...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述TEM的原理和方法。
参考答案:
(1)TEM使用电子束作为照射源,透射电子为成像电子信号。(2)入射电子束(照明束)有两种主要形式:平行束:透射电镜成像...
点击查看答案
进入题库练习
赞题库
赞题库-搜题找答案
(已有500万+用户使用)
历年真题
章节练习
每日一练
高频考题
错题收藏
在线模考
提分密卷
模拟试题
无需下载 立即使用
手机版
电脑版
版权所有©考试资料网(ppkao.com)All Rights Reserved