问答题
X 纠错
简述质谱分析的基本原理。
参考答案：
进入题库练习
查答案就用赞题库小程序
还有拍照搜题 语音搜题 快来试试吧
无需下载 立即使用
你可能喜欢
问答题
电子探针对材料成分分析与EDXRF成分分析有何异同点？
参考答案：
EPMA和XRF都能够对材料进行元素分析，但是有所区别的是：EPMA分析微区表面的成分，可以检测样品的点、线、面的不均匀...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述能谱分析与波谱分析有何异同点。
参考答案：
相同点：都是分析特征X射线来分析元素种类和含量。一般作为电镜等大型仪器的附件，用来测试样品微区的化学成分。为无损或微损的...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述电子探针的主要分析方法。
参考答案：
可进行微区结构及成分分析。电子探针是最准确的微区定量分析手段，微区分析（几个立方μm范围）是它的一个重要特点之一，...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述电子探针分析的基本原理。
参考答案：
电子探针仪是一种微区成分分析仪器，它利用被聚焦成小于1mm的高速电子束轰击样品表面，由X射线波谱仪或能谱仪检测从试样表面...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述扫描电镜的在材料研究中的主要用途。
参考答案：
（1）形貌相研究适用于微细矿物材料的形态、解理、晶面花纹、生长纹、断口及裂理纹等表面特征和矿物颗粒的空间关系等。（2）成...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述扫描电镜成像的物理信号及特点。
参考答案：
（1）二次电子：入射电子与样品相互作用后，使样品原子较外层电子（价带或导带电子）电离产生的电子，称二次电子。二次电子能量...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述扫描电镜图像衬度的产生原因、类型及主要特点。
参考答案：
SEM像衬度的形成主要基于样品微区如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。入射电子与之相互作用，...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述扫描电镜的结构和特点（与TEM进行对比）。
参考答案：
SEM主要由电子光学系统、扫描系统、信号收集系统、图像显示记录系统、真空系统和电源系统。SEM的电子枪和聚光镜与透射式电...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述扫描电镜的基本原理。
参考答案：
SEM是利用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子等，其中...
点击查看答案
进入题库练习
问答题
简述透射电镜的结构。
参考答案：
点击查看答案
进入题库练习
赞题库
赞题库-搜题找答案
（已有500万+用户使用）
历年真题
章节练习
每日一练
高频考题
错题收藏
在线模考
提分密卷
模拟试题
无需下载 立即使用
手机版
电脑版
版权所有©考试资料网(ppkao.com)All Rights Reserved
