A.分析参数中分析方法设置错误；
B.分析参数中测光点选择错误；
C.吸光度超限问题；
D.光源灯老化，发光不稳定；
E.试剂不良。

A.光源灯老化及损坏；
B.光窗污染及损坏；
C.水槽水污染；
D.比色杯脏污及损坏；
E.试剂更换了。

A.吸光度超限问题；
B.试剂质量不良问题；
C.参数设置问题，测光点设置有误；
D.参数设置问题，反应时间与测光点存在逻辑错误；
E.参数设置问题，波长设置有误。

A.计算中使用的项目中有报警；
B.校准未通过；
C.超过技术限；
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围；
E.校准重复性不良。

A.ABSLimit超限；
B.超过技术限；
C.补偿计算的分母为“0”；
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围；
E.校准重复性不良。

A.ABSLimit超限；
B.超过技术限；
C.补偿项目中发生报警或同工酶P的测定结果中有报警；
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围；
E.校准重复性不良。

A.1号杯340nm〈16000，杯间差〈±1000时，出现杯空白报警；
B.与杯空白检查值比较，ABS差值超过1000时，出现杯空白报警；
C.1号杯340nm〈19000，杯间差〈±800时，出现杯空白报警；
D.1号杯340nm〈19000，杯间差〈±1000；
E.1号杯340nm〈16000，杯间差〈±800。

A.校准通过；
B.校准失败（标准曲线出现极值）；
C.校准通过，但关机后新的校准结果不存盘会丢失；
D.同一项目第二次校准发生相同数据报警时，标准曲线更新；
E.同一项目第三次校准发生相同数据报警时，标准曲线更新。

A.更新；
B.不更新；
C.校准通过，标准曲线暂时更新，但关机后新的标准曲线不存盘会丢失。
D.同一项目第二次校准发生XXXXP数据报警时，标准曲线更新；
E.同一项目第三次校准发生XXXXP数据报警时，标准曲线更新。

A.ABSLimit超限；
B.超过技术限；
C.非直线标准曲线及线性（多点）标准曲线中，实测吸光度的SD值大于应用（校准）画面中“偏移允许吸光度”的输入值；
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围；
E.校准重复性不良。

A.校准液浓度非由低到高；
B.校准液浓度或位置未做设置；
C.分析方法与计算用测光点发生逻辑错误；
D.此次用校准求出的K系数与储存于仪器中的K系数之差超过本次值与上次值的平均值的±20%
E.校准重复性不良。