A.LeveyˉJennings控制图
B.Z-分数图
C.Youden图
D.x-R控制图
E.x-s控制图

A.以X为控制基线
B.X±2s为警告线
C.X±3s为控制线
D.X±1.5S为警告线
E.X±3.5S为控制线

A.具有统计规律的误差
B.当测定次数足够多时，出现各种大小偏差的概率遵循着统计分布规律
C.引起随机误差的因素是无法控制的
D.随机误差的变化不能预先确定，因此这类误差也不能修正
E.通过增加测定次数的办法在某种程度上不能将它减小

A.引起误差的因素在一定条件下是恒定的
B.误差的符号偏向同一方向
C.可按照它的规律对它进行校正和设法消除
D.增加测定次数不能使系统误差减小
E.增加测定次数可使系统误差减小

A.对称性
B.有界性
C.单峰性
D.无界性
E.双峰性

A.表明赋予被测量之值的分散性
B.是一个区间
C.表示的符号为正值
D.不确定度愈小，测量水平愈低，测量结果的使用价值愈低
E.不能说明测量结果是否接近真值

A.个体内变异
B.个体间变异
C.分析变异
D.室内变异
E.室间变异

A.对被测量的定义不完整或不完善
B.实现被测量的定义的方法的不理想
C.取样的代表性不够
D.对仪器的读数存在人为的偏移
E.测量仪器的分辨力或鉴别力不够

A.以前的观测数据
B.对有关技术资料和测量仪器特性的了解和经验
C.试剂厂家提供的技术说明书
D.校准证书
E.检定证书

A.对被测量的定义不完善
B.被测量的样本（抽样）不能代表所定义的被测量
C.离心的条件和贮存条件
D.日间（或批间）不精密度
E.系统误差和校准物的赋值

A.表示测量结果中的随机误差大小的程度
B.增加精密度差的测量系统重复次数会明显改善系统的精密度
C.精密度可以直接衡量，常用不精密度表达
D.较小的标准差表示有较低的精密度
E.指在一定条件下进行多次测定时，所得测定结果之间的符合程度