单项选择题X 纠错
A.消除循环低效率 B.消除不必要存储器引用 C.减少过程调用 D.减少寄存器引用
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单项选择题
Union test{ Char a[3]; Int b[4]; Short c[5]; }; 一个test类型数据占用（）个字节的空间。
A.10 B.16 C.29 D.30
A.CPE B.CCP C.CPA D.CPP
struct test{ Char a[3]; Int b[4]; Short c[5]; }; 一个test类型数据占用（）个字节的空间。
A.28 B.29 C.30 D.32
A.%eax B.%ebx C.%ecx D.%edx
A.while B.do-while C.for D.goto
A.al B.bl C.cl D.dl
A.存储器操作数 B.指针操作数 C.立即数操作数 D.寄存器操作数
A.movl8（%edx），（%ecx） B.movl$-17，%ecx C.movl$0x4050，（%eax） D.movl%eax，%ecx
A.立即数操作数 B.指针操作数 C.寄存器操作数 D.存储器操作数
A.1 B.2 C.4 D.8
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