A.该测量系统从%P/T角度来说是完全合格的
B.该测量系统从%P/T角度来说是勉强合格的
C.该测量系统从%P/T角度来说是不合格的
D.上述数据不能得到%P/T值，从而无法判断

A.这30天所有的数据点都落入控制限范围内
B.X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足GR&R要求
C.S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足P/T要求
D.对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异

A.甲设备比乙设备好一些，因为甲设备的Cp更高一些
B.甲设备和乙设备一样，因为甲设备和乙设备的Cpk相同
C.乙设备要比甲设备好一些，因为乙设备的Cp与Cpk接近，表明目标中心与分布中心基本重合
D.以上结论都不对

A.10.001mm
B.10.002mm
C.10.004mm
D.10.006mm

A.对数正态分布
B.威布尔分布
C.正态分布
D.指数分布

A.6
B.12
C.18
D.24

A.近似正态分布，均值为12分钟，标准差为0.3分钟
B.近似正态分布，均值为12分钟，标准差为3分钟
C.仍为左偏分布，均值为12分钟，标准差为3分钟
D.仍为左偏分布，均值为12分钟，标准差为0.3分钟

A.1.35为短期标准差，2.12为长期标准差
B.1.35和2.12都是长期标准差
C.1.35为长期标准差，2.12为短期标准差
D.1.35和2.12都是短期标准差

A.因为数据顺序变化导致平均值变化，所以Cpk值有变化
B.这是软件分析的误差导致，可以不必在意
C.因为数据的变化导致规格变化，所以Cpk值变化
D.因为数据的变化导致标准差变化，所以Cpk值变化

A.测量系统导致的变异占总变异的58.8%，此项指标说明测量系统不合格
B.测量系统导致的变异占总变异的41.2%，此项指标说明测量系统合格
C.重复性导致的变异占总变异的58.8%，此项指标说明测量系统不合格
D.再现性导致的变异占总变异的58.8%，此项指标说明测量系统合格

A.为右偏，偏度为正
B.为右偏，偏度为负
C.为左偏，偏度为正
D.为左偏，偏度为负