A.完全解理
B.不完全解理
C.一般解理
D.解理

A.晶体的形状
B.晶体的颜色
C.晶体的突起
D.晶体的结晶度

A.垂直光轴的切面
B.垂直bxa的切面
C.垂直光轴面的切面
D.平行光轴面的切面

A.一次
B.五次
C.六次
D.三次

A.最大的内能
B.自限性
C.均一性
D.对称性

A.光学成像系统
B.电子系统
C.电气系统
D.减震系统

A.磁场分布是严格轴对称
B.满足旁轴条件
C.电子波的波长（速度）相同
D.电子波的波长不同

A.具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分
B.为一种微区分析方法，具有很高的分辨率，成像分辨率达到0.2～0.3nm（TEM），可直接分辨原子，能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析
C.各种仪器日益向多功能、综合性方向发展
D.操作复杂

A.差热分析
B.热重分析
C.差示扫描量热分析
D.热机械分析

A.所选吸收带必须是样品的特征吸收带
B.所选吸收带能被溶剂或其它组分的吸收带干扰
C.所选吸收尽量避开水蒸气和二氧化碳的吸收区
D.带有足够的高度，并且高度对定量组分浓度的变化有足够的灵敏度

A.重复性好，难用于定量分析
B.只能用于测试可以磨成细粉的样品，对于某些坚硬的、有黏着性、柔软性和弹性的样品，多数场合得不到满意的红外光谱
C.制得的样品不便于保存
D.不能得到尖锐的吸收带