A、DZ-Ⅰ
B、DB-P
C、CS2和CS4
D、CS3和CS4

A、0.5－1MHz双晶直探头
B、1－5MHz双晶直探头
C、2.5MHz单晶直探头
D、5MHz单晶直探头

A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距离－波幅曲线
B、双晶探头检测时，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于显示屏高度的50%
C、底面第一次反射波B1波幅低于显示屏高度的50%，即B1＜50%
D、以上都是

A、全面扫查
B、列线扫查
C、格子线扫查
D、中部区域列线扫查或格子线扫查加坡口预定线两侧范围内100%扫查

A、阶梯平底试块
B、φ5平底孔试块
C、CS2
D、CS3

A、2.5MHz双晶直探头
B、4－5MHz双晶直探头
C、4－5MHz单晶直探头
D、5MHz单晶直探头

A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA
B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4
C、CS2、CS3
D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20－2

A、对比试块与被检件或材料化学成份相似
B、试块的外形尺寸能代表被检工件的特征
C、对比试块的厚度与被检工件厚度相对应，涉及到不同工件厚度对接接头检测，试块厚度选择应由其较大工件厚度确定
D、对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准

A、扫查灵敏度都高于基准灵敏度
B、扫查灵敏度比基准灵敏度高6dB
C、扫查灵敏度都等于基准灵敏度
D、扫查灵敏度应根据表面状况、缺陷检测要求及探头类型等适当提高dB数（增益）