A.随着缺陷埋藏深度的增加而降低
B.随着探头中心间距增大而降低
C.随着脉冲宽度的增大而降低
D.以上都对

A.随着深度的增加而提高
B.随着探头中心间距减小而提高
C.随着脉冲宽度的减小而提高
D.以上都对

A.为减小测量缺陷信号与测量误差，必须仔细测量出所使用的耦合剂厚度
B.如果测量缺陷信号与直通波到达时间之差，则耦合剂引起的缺陷深度测量误差很小
C.如果测量缺陷信号到达的绝对时间，则耦合剂引起的测量误差很小
D.以上叙述都是错误的

A.用高精度的长度尺反复测量
B.用专用的激光测距仪反复测量
C.测量标准试块上不同深度反射体的信号到达时间
D.测量直通波或者底面波信号尖端信号到达的时间

A.对缺陷深度测量精度影响很大
B.对缺陷高度测量精度影响很大
C.对缺陷长度测量精度影响很大
D.对缺陷偏离轴线位置的测量精度影响很大

A.缺陷深度
B.信号脉冲的长度
C.探头中心间距
D.晶片尺寸

A.严重影响缺陷高度的测量精度
B.严重影响V形坡口根部缺陷的检出
C.只在非平行扫查中存在
D.只在平行扫查中存在

A.随探头折射角减小而减小，随底面焊缝宽度的增大而增大
B.随探头折射角减小而增大，随底面焊缝宽度增大而增大
C.随探头折射角减小而减小，随探头脉冲宽度减小而减小
D.随探头折射角减小而增大，随探头脉冲宽度减小而增大

A.探头脉冲周期减少可以减小直通波盲区
B.如果PCS减小，则直通波盲区减小
C.增加探头频率可以减小直通波盲区
D.减小探头晶片尺寸可以减小直通波盲区

A.近表面深度测量，时间上一个很小的误差会给深度带来很大的误差
B.近表面深度测量，深度上一个很小的误差会给时间带来很大的误差
C.减小探头中心间距可以改善近表面区域的分辨力
D.增加探头频率可以改善近表面区域的分辨力

A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信号淹没在直通波内导致漏检
C.在进行非平行扫查时底面存在盲区
D.在进行平行扫查是底面存在盲区