A、量热法 
B、电离室法 
C、胶片法 
D、半导体探测器 
E、热释光剂量法

A、1Bq=2.709×１０-11Ci 
B、1Bq=1.709×１０-11Ci 
C、1Bq=2.709×１０-10Ci 
D、1Bq=1.709×１０-12Ci 
E、1Bq=2.709×１０-12Ci 

A、测定的半价层必须是直接用于治疗的射线
B、不加吸收片测量强度时和加吸收片测量半价时的条件应保持相同
C、吸收板的位置要靠经电离室
D、电离室周围不应有产生散射的物质
E、射野面积应尽量减小，以能包括电离室的灵敏体积为限

A、贯穿物质的能力
B、射线的强度
C、射线的硬度
D、能量
E、半价层

A、5Cm 
B、6Cm 
C、8Cm 
D、9Cm 
E、10Cm

A、射线能量
B、吸收物质
C、吸收物质的厚度
D、照射时间
E、介质的吸收系数

A、连续谱
B、间断的
C、不连续的
D、不间断的
E、连续铺上叠加特征谱

A、它是X射线的主要成分 
B、它的能谱是连锁的 
C、这种能谱不能直接用于临床治疗，须加不同材料几厚度的滤过板 
D、它是连续谱上叠加的特征普 
E、它是最高X射线能量等于入射电子的打靶能量

A、高速运动的电子作用于靶原子的外层电子 
B、高速运动的电子作用于靶原子的内层电子 
C、高速运动的电子作用于靶原子的原子核 
D、高速运动的电子作用于靶原子的光学轨道电子 
E、高速运动的电子作用于靶原子的内层电子和原子核

A、衰败前的电子数
B、衰败时间
C、元素的放射性
D、元素衰败的半衰期
E、射线穿过介质的厚度

A、入=0.693Th
B、入=0.693/Th
C、入=Th/0.693
D、入=1.44Th
E、以上都不对