A.诊断策略优化
B.测试选择
C.故障检测
D.测试性描述

A.异常处理和结构优化
B.结构优化
C.语句分析和结构优化
D.程序调试和结构优化

A.测试程序层
B.管理层
C.主程序层
D.驱动层

A.测试层
B.主程序层
C.驱动层
D.总线层

A.单通道输入结构
B.多路分时采集输入结构
C.多路同步采集分时输入结构
D.多路同步采集多通道输入结构

A.传感器
B.数据缓冲寄存器
C.D/A转换器
D.信号变换（放大）器

A.传感器
B.信号变换电路
C.采样/保持（S/H）电路
D.A/D转换电路

A.直流
B.交流
C.数字
D.频率

A.为缩短测试时间，需要具有快速自检功能
B.要有较高的可靠性，在软件和硬件上应采用适当的容错和冗余设计
C.测试系统有较高的抗干扰能力，抗干扰设计应贯穿于系统设计的全过程
D.重量轻，在硬件设计时，要充分考虑各个部件的重量

A.灵活性
B.互操作性
C.模块化
D.自动化

A.传感器
B.总线
C.计算机
D.适配器