单项选择题X 纠错
A.奥氏体的起始晶粒度 B.奥氏体的实际晶粒度 C.奥氏体的本质晶粒度 D.以上均不是
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单项选择题
A.高频 B.超高频 C.中频 D.工频
A.RP0.2或Rr0.2 B.Rt0.5 C.ReL
弯曲试验设备应有足够硬度支承辊,其长度应()试样的宽度或直径。
A.等于 B.大于 C.小于
A.Cr B.C C.Si
A.25倍 B.50倍 C.100倍
A.2位 B.4位 C.3位
A.四舍五入 B.四舍六入五单双 C.四舍六入
制取杂物试样时,试样的抛光面积应为()mm2。
A.200 B.100 C.50
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