（1）通用BIT技术：测试点的选择直接影响被测系统的测试性。包括余度BIT技术、环绕BIT技术、并行测试技术。
（2）数字BIT技术：包括板内ROM式BIT技术、微处理器BIT、微诊断法、RAM测试、定时监控测试等。
（3）模拟电路BIT技术：包括比较器方法和电压求和方法。由于模拟器件的故障模式很多，模拟电路会有容差故障，所以模拟电路BIT技术很难发展。