多项选择题X 纠错
A.并行比较型 B.逐次比较型 C.双积分型 D.间接比较型
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多项选择题
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A.便于仿真测试 B.集成密度高 C.可硬件加密 D.可改写
A.与阵列 B.或阵列 C.输入缓冲电路 D.输出电路
A.PROM的与阵列固定,不可编程 B.PROM与阵列、或阵列均不可编程 C.PAL与阵列、或阵列均可编程 D.PAL的与阵列可编程
A.与阵列可编程 B.或阵列固定 C.与阵列固定 D.或阵列可编程
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