A、特征X射线
B、示性X射线
C、荧光辐射
D、以上都对

A、本征X射线
B、示性X射线
C、标识X射线
D、连续X射线

A、本征X射线
B、示性X射线
C、标识X射线
D、以上都是

A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子

A、1.6726×10^-24克
B、3.167×10^-27克
C、9.109×10^-31克
D、5.478×10^-24克

A、像质计
B、胶片
C、评定尺
D、增感屏

A、报警电路
B、接收电路
C、同步电路
D、时基电路

A、锻件
B、棒坯
C、铸锭
D、薄板

A、粗糙表面回波幅度高
B、无影响
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能

A、耦合不良
B、存在与声束不垂直的缺陷
C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D、以上都可能

A、采用当量试块比较法测定的结果
B、对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果
C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同