A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子

A、1.6726×10^-24克
B、3.167×10^-27克
C、9.109×10^-31克
D、5.478×10^-24克

A、像质计
B、胶片
C、评定尺
D、增感屏

A、报警电路
B、接收电路
C、同步电路
D、时基电路

A、锻件
B、棒坯
C、铸锭
D、薄板

A、粗糙表面回波幅度高
B、无影响
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能

A、耦合不良
B、存在与声束不垂直的缺陷
C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D、以上都可能

A、采用当量试块比较法测定的结果
B、对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果
C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

A、窄脉冲
B、衰减
C、波型转换
D、粗晶

A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、杂波

A、结构反射和变型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部