A、粗糙表面回波幅度高
B、无影响
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能

A、耦合不良
B、存在与声束不垂直的缺陷
C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D、以上都可能

A、采用当量试块比较法测定的结果
B、对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果
C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

A、窄脉冲
B、衰减
C、波型转换
D、粗晶

A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、杂波

A、结构反射和变型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部

A、侧壁干扰
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都对

A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、压电元件应在其基频上激发
D、探头的频带应尽可能宽

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不对

A、探头耦合面几何尺寸来决定
B、根据试块材料决定
C、几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D、以上都不对

A、底波计算法
B、试块法
C、通用AVG曲线法
D、以上都可以