A.工序半成品
B.工艺技术
C.原材料
D.成品

A.正态分布计算法
B.超几何分布计算法
C.二项分布计算法
D.泊松分布计算法

A.必须追查各方面原因，对工艺进行改革
B.对产品进行全数检查
C.对产品进行全数检验或进行分级筛选
D.分析极差R过大的原因，并采取措施

A.控制图上的子点没有越出控制界限之外
B.子点在控制界限内排列方式没有缺陷
C.控制图上的子点越出控制界限之外
D.子点在控制界限外排列方式没有缺陷

A.将正常判为不正常的错误，称为第一类错误
B.将本来不是正常状态而错判为正常状态，称为第二类错误
C.将正常判为不正常的错误，称为第二类错误
D.将本来不是正常状态而错判为正常状态，称为第一类错误

A.控制图是用于分析和判断工序是否处于稳定状态所使用的，带有有控制界限的图形
B.控制图上的控制界限是用来判断工序是否发生异常变化的尺度
C.控制用控制图是利用控制图看工序是否稳定，看各种因素对质量特性的影响
D.计量值控制图一般适应于长度、强度、纯度等计量值为控制对象的场合

A.3控制界限
B.2控制界限
C.4控制界限
D.5控制界限

A.因果分析图
B.排列图
C.直方图
D.统计分析法

A.缺陷位置调查表
B.不良原因调查表
C.工序分布调查表
D.不良项目调查表

A.偶然原因引起的分散性，正常的原因主要指原材料、设备、操作方法、人和环境的微小变化
B.偶然原因引起的分散性，正常的原因主要指原材料、设备、操作方法、人和环境的较大变化
C.系统原因引起的分散性，异常的原因主要是原材料、设备、操作方法、人和环境的较大变化
D.系统原因引起的分散性，异常的原因主要是原材料、设备、操作方法、人和环境的微小变化

A.散布图
B.直方图
C.排列图
D.因果分析图