A.UCL与LCL二者之间的间隔越小越好 B.休哈特所提出的3σ方式较好，接近最优间隔距离 C.5σ方式接近最优间隔距离 D.6σ方式接近最优间隔距离
A.利用控制图提高过程的合格率 B.利用控制图分析过程的稳定性，对异常因素进行预警 C.计算过程能力指数，评价过程质量水乎 D.计算过程能力指数，评价过程生产效率
A.统计控制状态，是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态 B.控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握 C.通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99．73％的产品是合格品 D.在控制状态下生产的不合格品少，生产最经济 E.统计控制状态是指过程中只有异常因素的状态
A.消除偶然因素 B.消除异常因素 C.区分偶然因素与异常因素两类因素 D.以上都不对
A.偶然波动可以避免 B.偶然波动不可以避免 C.采取措施不可以消除异常波动 D.采取措施可以消除异常波动 E.采取措施可以消除偶然波动
A.质量波动区分为偶然波动与异常波动两类并分别采取不同的对待策略，这是朱兰的贡献 B.偶然波动与异常波动都是产品质量的波动 C.异常波动已经消除，只剩下偶然波动，这当然是正常波动 D.质量波动区分为偶然波动与正常波动两类并分别采取不同的对待策略，这是休哈特的贡献 E.朱兰提出了质量波动分为偶然波动与正常波动两类
A.上、下控制限 B.公差界限 C.子样数据的描点序列 D.控制中心线 E.数组
