A.性能不稳定
B.参数发生偏倚
C.退化
D.器件失效

A.GJB/450A-2004装备可靠性工作通用要求
B.GJB/Z27-1992电子设备可靠性热设计手册
C.GIB/4027-2000军用电子元器件破坏物理分析方法
D.GJB/Z299B-1998电子设备可靠性预计手册

A.可靠性
B.安全性
C.测试性
D.维修性

A.测试性
B.保障性
C.尺寸、重量
D.寿命周期内维修费用

A.明确组成单元可靠性定量要求
B.发现设计薄弱环节
C.比较不同设计方案
D.确定组成单元的维修性要求

A.确定导致顶事件发生的原因和原因组合
B.发现潜在的故障，发现设计薄弱环节
C.指导故障诊断和维修方案
D.评价产品设计，生产阶段故障的影响

A.包含多个相同元器件时，可用单个元器件的失效率计算
B.各单元失效率为常数
C.各单元相互独立
D.各单元均串联

A.变形
B.断裂
C.点蚀
D.共振

A.建树时不允许逻辑门直接相连
B.故障树中存在共因事件时，必须使用同一事件标号
C.原因事件可以是硬件故障和软件故障不能是环境因素和人为因素
D.建好的故障树必须进行简化和模块分解

A.尽量使每一方案的两类决策风险尽可能接近
B.当检验下限和鉴别比给定时，总试验时间随着双方风险的减少而增加
C.当检验下限和鉴别比给定时，为减少双方风险就需要增加总试验时间
D.生产方风险与使用方风险始终应为一致

A.常规筛选方法是目前广泛应用的一种方法
B.定量筛选方法也是目前广泛应用的一种方法
C.如果产品研制时间紧迫，都可以采用高加速应力筛选方法
D.在无法确定常规筛选和定量筛选方法之前，可采用初始筛选方法