A.首先分析找出过程未受控的原因，即找出影响过程的异常变异原因，使过程达到受控。
B.首先分析找出标准差过大的原因，然后减小变异。
C.首先分析找出平均值太低的原因，用最短时间及最小代价调整好均值。
D.以上步骤顺序不能肯定，应该根据实际情况判断解决问题的途径。

A：u
B：np
C：c
D：p

A.上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同
B.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽
C.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄
D.上下控制限的范围与上下公差限的范围是相互独立的

A.用塞规，每次检测100件作为一个样本，用np控制图
B.用塞规，每次检测500件作为一个样本，用np控制图
C.用游标卡尺，每次连续检测5根轴，用X.R控制图
D.用游标卡尺，每次连续检测10根轴，用X.R控制图

A.生产根本不稳定。
B.平面度指标不服从正态分布
C.每天内的平面度波动不大，但每天间的平面度波动较大
D.这两张图什么问题也不能说明

A.CCD有旋转性，而Box-Beknken设计没有旋转性
B.CCD有序贯性，而Box-Beknken设计没有序贯性
C.CCD试验点比BOX-Beknken设计试验点少
D.以上各项都对

A.32次。
B.16次。
C.12次（Plackett-Burman设计）。
D.8次。

A.3
B.4
C.5
D.6

A.全因子试验
B.部分实施的二水平正交试验，且增加若干中心点
C.部分实施的二水平正交试验，不增加中心点
D.Plackett-Burman设计

A.8因子的全因子实验
B.8因子的部分因子实验
C.中心复合设计（CCD.
D.Box-Behnken设计

A.E=ABD，F=ABC
B.E=BCD，F=ABC
C.E=ABC，F=ABD
D.E=ACD，F=BCD