A.加装屏蔽，用金属屏蔽罩或网把试品与干扰源隔开
B.采用移相电源
C.倒相法
D.将电桥移到磁场范围以外

A.大容量设备的局部缺陷
B.非穿透性的局部损坏
C.很小部分绝缘的老化劣化
D.个别的绝缘弱点

A.整体性受潮和小电容试品严重局部缺陷
B.绝缘整体受潮和穿透性导电通道
C.绝缘老化劣化，绕组上附积油泥
D.绝缘内含气泡的电离、绝缘分层、脱壳

A.射频检测法、无限电干扰电压法、超高频检测法
B.化学分析法
C.光检测法
D.噪声检测法

A.测量泄漏电流的方法有微安表直读法
B.绝缘电阻一般用兆欧表
C.测量介质损耗角正切值的方法有西林电桥
D.测量吸收比用兆欧表

A.加压时间较长一般采用5~10min
B.直流高压下，局部放电弱，破坏性弱（最小）
C.直流电压的电压强度高于交流，故交流设备做直流耐压试验需要降低电压等级
D.跟设备实际情况不一样，不够准确，只用于被试品的电容量很大的场合
E.试验后对试品和滤波电容的充分放电
F.适用于任何电气设备

A.曲线1对应绝缘电阻大，绝缘良好
B.曲线2对应绝缘整体受潮，绝缘电阻变小
C.曲线3、曲线4对应绝缘中有集中性缺陷

A.发现缺陷有效性高
B.易判断缺陷性质
C.发现缺陷的灵敏度高
D.接线复杂、需要高压电源、电压电流测量系统，屏蔽系统

A.试验高压电源对桥体杂散电容的影响。
B.外界电场的干扰。
C.外界磁场干扰。

A.外壳
B.高压绕组
C.低压绕组
D.中压绕组

A.开裂
B.受潮
C.老化
D.变质