A.硬保护膜直探头
B.软保护膜直探头
C.大尺寸直探头
D.高频直探头

A.影响缺陷的精确定位
B.影响AVG曲线或当量定量法的使用
C.导致小缺陷漏检
D.以上都不对

A.横向分辨力降低
B.声束扩散角增大
C.近场长度增大
D.指向性变钝

A.应减小阻尼块
B.应使用大直径晶片
C.应使压电晶片在它的共振基频上激励
D.换能器频带宽度应尽可能大

A.Q降低，灵敏度提高
B.Q值增大，分辨力提高
C.Q值增大，盲区增大
D.Q值降低，分辨力提高

A.仪器分辨力提高
B.仪器分辨力降低，但超声强度增大
C.声波穿透力降低
D.对试验无影响

A.扫描长度
B.扫描速度
C.单位时间内重复扫描次数
D.锯齿波电压幅度

A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB

A.发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数
B.扫描电路每秒钟内重复扫描次数
C.探头晶片在单位时间内向工件重复辐射超声波次数
D.以上全部都是

A.1―2个
B.数十个到数千个
C.与工作频率有同
D.以上都不对

A.灵敏度范围
B.线性范围
C.分辨力范围
D.选择性范围