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大致上可分为原位量测、离位量测两类 原位星测系指镀膜进行中量测,普遍使用在物理气相沉积,如微天平、光学、电阻量测。 离位量测系指镀膜完成后量测,对电镀膜的行使较为普遍,具有了解电镀效率的目的,如质量、剖面计、扫描式电子显微镜。
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问答题
(1)薄膜和基材之间的晶格失配 (2)薄膜和基材之间的热膨胀系数差异 (3)晶界之间的互挤
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