问答题X 纠错
连续三次离子注入 ①第一次高能量(>200KEV)、深结(~1.0μm)倒掺杂注入,以减小CMOS器件的闭锁效应; ②第二次中能量注入,以保证源漏击穿电压; ③第三次小剂量注入,以调整阈值电压。
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