欲测定SiO₂的厚度，通常将其磨成图示劈尖状，然后用光的干涉方法测量，若以λ=590nm光垂直入射，看到七条暗纹，且第七条位于N处，问该膜厚为多少。

波长为500nm的单色光垂直照射到由两块光学平玻璃构成的空气劈尖上，在观察反射光的干涉现象中，距劈尖棱边l=1.56cm的A处是从棱边算起的第四条暗条纹中心。
（1）求此空气劈尖的劈尖角θ。
（2）改用600nm的单色光垂直照射到此劈尖上仍观察反射光的干涉条纹，A处是明条纹，还是暗条纹？

如图所示，牛顿环装置的平凸透镜与平面玻璃有一小缝e₀。现用波长为λ单色光垂直照射，已知平凸透镜的曲率半径为R，求反射光形成的牛顿环的各暗环半径。

可用观察等厚条纹半径变化的方法来确定待测透镜球面半径比标准样规所要求的半径大还是小。如图待测透镜球面半径比标准样规所要求的半径大，此时若轻轻地从上面往下按样规，则图中的条纹半径将缩小。