1）仪器及探头性能的影响：
1.1频率的影响；
1.2衰减器精度和垂直线性的影响；
1.3探头形式和晶片尺寸的影响。
2）耦合和衰减的影响。
3）试件几何形状和尺寸的影响
4）缺陷的影响：
4.1缺陷形状；
4.2缺陷方位；
4.3缺陷波的指向性；
4.4缺陷表面粗糙度的影响；
4.5缺陷性质的影响；
4.6缺陷位置的影响；