入射方向的选择应使声束中心线与缺陷面特别是与最大受力方向垂直的缺陷尽可能地接近垂直。

在使用对比试块时，如果对比试块与受检件之间由于表面粗糙度不同或材质不同而有声传输特性差异时，应进行传输修正，修正可通过将来自对比试块背面的回波幅度和来自同厚度受检件背面的回波幅度进行比较而确定。修正值超过±6dB，该对比试块不应采用。

探头晶片尺寸大时，近场的覆盖范围也大，晶片小时，近场的覆盖范围也小。但在远场处由于指向性的关系，大尺寸晶片的覆盖范围有可能小于尺寸晶片。

探头的选择主要是对晶片尺寸、角度、频率等几个方面选择。

检测条件有频率、探头、检测部位及其粗糙度、检测灵敏度。

轴类锻件的超声检测应采用径向检验、轴向检验、斜探头周向检验、斜探头轴向检验。

扫查应注意扫查速度、接触的稳定性、方向性、同步与协调。

扫查一般考虑两个原则：一是保证试件的整个扫查区有足够的声束覆盖以避免漏检；二是扫查过程中声束入射方向始终符合所规定的要求。

在进行超声波检测时，检测面上探头与试件的相对运动称为扫查。

对比试块是指检查特定试件时，所须用的试块，用于调整仪器的灵敏度，调整测试范围，评定缺陷的当量尺寸及保证检验结果的再现。