首页
题库
网课
在线模考
搜标题
搜题干
搜选项
集成电路工艺原理判断题每日一练(2017.08.20)
判断题
CD越小,源漏结的掺杂区越深。
答案:
正确
点击查看答案
判断题
离子注入是唯一能够精确控制掺杂的手段。
答案:
正确
点击查看答案
判断题
区熔法是20世纪50年代发展起来的,能生产到目前为止最纯的硅单晶,含氧量非常少。
答案:
正确
点击查看答案
判断题
反刻是一种传统的平坦化技术,它能够实现全局平坦化。
答案:
错误
点击查看答案
判断题
化学机械平坦化,简称CMP,它是一种表面全局平坦化技术。
答案:
正确
点击查看答案