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题目列表

集成电路工艺原理判断题每日一练(2017.08.20)

  • 判断题

    CD越小,源漏结的掺杂区越深。

    答案:正确
  • 判断题

    离子注入是唯一能够精确控制掺杂的手段。

    答案:正确
  • 判断题

    区熔法是20世纪50年代发展起来的,能生产到目前为止最纯的硅单晶,含氧量非常少。

    答案:正确
  • 判断题

    反刻是一种传统的平坦化技术,它能够实现全局平坦化。

    答案:错误
  • 判断题

    化学机械平坦化,简称CMP,它是一种表面全局平坦化技术。

    答案:正确

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