A.用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻 B.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时,表明铜屏蔽层的直流电阻增大,铜屏蔽可能被腐蚀 C.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时,表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能 D.用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
A.0.35; B.0.1; C.0.2; D.0.25。
A.集肤效应; B.介电性能; C.绝缘强度; D.电场强度。
A.一般; B.很高; C.较高; D.较低。
①每条电缆线路的技术资料通常包括原始资料; ②施工资料; ③运行资料。
应将电缆端头封双套头,并按大于弯曲半径盘好圈,平放埋入地下200mm左右,再用细土填平,上方盖以水泥盖板做临时保护。
是破坏性试验
A.接头处至另一个分叉; B.分叉处至接头; C.分叉处至另一个分叉; D.接头处至另一接头。