名词解释
填空题
问答题
半导体探测器受强辐射照射一段时间以后性能会逐渐变坏,这种效应称为半导体探测器的辐射损伤效应,简称辐射损伤或辐照效应。
常用辐照源:钴-60,铯-137,电子加速器,同步辐射。
赞题库-搜题找答案
(已有500万+用户使用)
无需下载 立即使用
版权所有©考试资料网(ppkao.com)All Rights Reserved