被吸附杂质的存在状态:分子型、离子型、原子型
包括:切断、滚磨、定晶向、切片、倒角、研磨、腐蚀、抛光、清洗、检验。
曝光时间、前烘的温度和时间、光刻胶的膜厚、显影液的浓度、显影液的温度、显影液的搅动情况
制造源、漏极与制造栅极采用两次掩膜步骤,不容易对齐
注氧隔离技术、键合减薄技术、智能剥离技术。
它的空穴迁移率低于硅的空穴迁移率
栅长、栅宽、栅指数