A.直探头在翼板上扫查探测
B.斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测
C.直探头在腹板上扫查探测
D.斜探头在腹板上扫查探测

A.条状夹杂
B.气孔或圆形夹杂
C.裂纹
D.以上A和C

A.保持灵敏度不变
B.适当提高灵敏度
C.增加大K值探头探测
D.以上B和C

A.大
B.小
C.无影响
D.不一定

A.来自工件表面的杂波
B.来自探头的噪声
C.工件上近表面缺陷的回波
D.耦合剂噪声

A.横波质点振动方向对缺陷反射有利
B.横波探伤杂质少
C.横波波长短
D.横波指向性好

A.发现较小的缺陷
B.区分开相邻的缺陷
C.改善声束指向性
D.以上全部

A.较低频探头
B.较粘的耦合剂
C.软保护膜探头
D.以上全部

A.检测灵敏度
B.时基线性
C.垂直线性
D.分辨力

A.导电材料
B.磁致伸缩材料
C.压电材料
D.磁性材料