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通常情况下,()封装形式的芯片可以采用重力式分选设备进行测试。
A.LGA
B.DIP
C.SOP
D.QFN
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与测编一体的转塔式分选机设备相比,平移式分选机设备没有()环节的操作。
A.编带
B.测试
C.光检
D.分选
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封装工艺中,在塑封体上进行激光打字时,打标的内容可以有()
A.产品名称
B.生产日期
C.生产批次
D.商标
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