A.Distributed BIST B.Direct Access C.Test Bus D.Boundary Scan
A.由于内嵌测试模式发生器,不需要额外生成测试模式 B.由于只输出GO/NOGO,故障分析很困难 C.由于内嵌测试输出评估部,不需要高价测试设备,可降低成本 D.不可用于Burn-In测试
A.禁止使用循环组合电路 B.FF的时钟信号必须能够从外部端口直接控制 C.FF的复位信号必须能够从外部端口直接控制 D.扫描测试时,RAM和内核需要分开进行设计