A.利用缺陷回波高度确定缺陷高度。B.利用缺陷回波时间确定缺陷高度。C.利用缺陷端部最大回波确定缺陷高度。D.利用缺陷端部最大回波时间确定缺陷高度。
A.表面凹槽深度为λ/4。B.表面凹槽深度为λ/4的奇数倍。C.表面凹槽深度为λ/2。D.表面凹槽深度为λ。
A.斜探头在筒体外壁检测,直探头在管子外壁检测。B.斜探头在管子内、外壁检测,直探头在筒体内壁检测。C.斜探头在管子内壁检测,直探头在筒体外壁检测。D.斜探头在筒体内壁检测,直探头在管子内壁检测。