A、有利于缺陷的清晰显示 B、垂直入射到被检件表面 C、平行与被检件表面 D、必须与被检件成30°角
A、红光 B、紫外线 C、红外线 D、日光
A、日光光源 B、半导体光源 C、气体放电光源 D、温度辐射光源