大学试题
半导体测试技术问答题每日一练(2019.05.06)
来源：考试资料网
问答题
NPN三极管放大时管子内部的工作原理。
参考答案：
1、发射区向基区发射电子（形成发射极电流）发射结施加正向电压且掺杂浓度高，所以发射区多数自由电子越过发射结扩散到基区，发...
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问答题
数字电路测试的流程。
参考答案：
⑴先阅读被检器件的使用手册，根据手册上的动、静态参数编写测试程序；⑵根据送测单位的测试流程单给出的测试设备选择设备；⑶如...
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问答题
测试的一般要求。
参考答案：
必须按照微电子器件试验方法的军用国家标准进行测试，其中就对测试环境提出了严格的要求，这样可以避免外界因素对器件造成的误差...
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问答题
静电对电子器件的危害。
参考答案：
⑴静电吸附灰尘，改变线路间的阻抗，影响产品的功能与寿命。⑵因电场或电流破坏元件的绝缘或导体，使元件不能工作（完全破坏）。...
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问答题
Open-short功能测试优缺点。
参考答案：
优点相对于DC串行/静态法，运行测试向量要快得多。缺点datalog显示的结果信息有限，当fail产生时，我们无法直接判...
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