A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距离－波幅曲线 B、双晶探头检测时，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于显示屏高度的50% C、底面第一次反射波B1波幅低于显示屏高度的50%，即B1＜50% D、以上都是
A、25mm B、37mm C、45mm D、49mm
A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4 C、CS2、CS3 D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20－2
A、要求焊缝余高磨平 B、要求横向缺陷检测 C、要求母材检测 D、A和C
A、对比试块与被检件或材料化学成份相似 B、试块的外形尺寸能代表被检工件的特征 C、对比试块的厚度与被检工件厚度相对应，涉及到不同工件厚度对接接头检测，试块厚度选择应由其较大工件厚度确定 D、对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
