A.因为必须对试件施加变化的磁场 B.因为要利用集肤效应来提高探出表面缺陷的性能 C.因为用直流反磁场的影响大，所以探出缺陷的能力低 D.因为交流比直流容易得到
A、检验仪器和探头的组合性能 B、确定灵敏度 C、缺陷定位 D、缺陷定量 E、以上都是
A.铁素体 B.珠光体 C.铁素体加珠光体 D.以上都不对
A、对短缺陷有较高探测灵敏度 B、聚焦方法一般采用圆柱面声透镜 C、缺陷长度达到一定尺寸后，回波幅度不随长度而变化 D、探伤速度较慢
A.光电效应 B.康普顿散射 C.吸收 D.半价层厚度
