A、2.5MHz双晶直探头 B、4－5MHz双晶直探头 C、4－5MHz单晶直探头 D、5MHz单晶直探头
A、全面扫查 B、列线扫查 C、格子线扫查 D、中部区域列线扫查或格子线扫查加坡口预定线两侧范围内100%扫查
A、96mm B、48mm C、128mm D、80mm
A、阶梯平底试块 B、φ5平底孔试块 C、CS2 D、CS3
A、对比试块与被检件或材料化学成份相似 B、试块的外形尺寸能代表被检工件的特征 C、对比试块的厚度与被检工件厚度相对应，涉及到不同工件厚度对接接头检测，试块厚度选择应由其较大工件厚度确定 D、对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
