A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态
B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到，技术控制状态达到
C．状态Ⅲ：统计控制状态达到，技术控制状态未达到
D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态
E．以上说法都不对

A．检出力的大小
B．测量仪器的精确度
C．样本测试的时问长短
D．样本抽取的难易

A．不合格品率p控制图
B．均值一极差控制图
C．不合格数c控制图
D．单值一移动极差X-R_s

A．min(C_pU，C_pL)
B．C_p(1+k)
C．
D．C_p(1-k)

A．由于异常波动所产生的变异往往是同向的，故异常时描点出界就很自然，也即灵敏度高
B．由于异常波动所产生的变异会相互抵消一部分，故的标准差变小
C．由于偶然波动会相互抵消一部分，故的标准差变小
D．由于偶然波动会相互抵消一部分，故求平均值的操作对图无影响

A．偶然波动可以避免
B．偶然波动不可以避免
C．采取措施不可以消除异常波动
D．采取措施可以消除异常波动
E．以上说法均不正确

A．与过程质量特性值的分布中心位置无关
B．过程质量特性值分布中心位置与规范中心偏移越大，C_pK越高
C．过程质量特性值分布中心位置与规范中心偏移越大，C_pK越低
D．C_pK＜C_p

A．适用范围窄
B．灵敏度高
C．适用范围广
D．对于非正态分布的计量型数据同样适用

A．分析生产过程是否处于统计控制状态
B．分析该过程的过程能力指数是否满足要求
C．分析有偏移情况的过程能力指数
D．计算过程的不合格品率
E．计算过程的偏移系数

A．已在生产过程中采用了控制图管理
B．过程的产量、合格率、出勤率应进行连续的记录和统计
C．控制图显示过程平稳，样本点在控制线内随机分布
D．过程中只有偶因引起的波动而无异常波动
E．生产过程中的稳态